更新:2021-01-22     被浏览:
高先生 ( 32岁 , 男 , 编号:73894 )
工作经验: 8年以上经验
基本资料: 中专学历
现居住地: 商丘-民权县
159******** 您还没有登录,请点击登录
求职意向
  • 工作职能: 工程师/技术员
  • 意向岗位:产品整合方向/失效分析/良率提升工程师/技术员
  • 从事行业:面板模块
  • 工作地点:广东 东莞
  • 期望薪资: ¥5500-8000
  • 到岗时间:随时到岗
  • 求职状态:已离职,寻求新工作
  • 工作性质:全职
工作经历 平均工作时长:8年6个月
  • 2011.06- 2019.10
    厦门天马微电子有限公司整合部-失效分析助理工程师
    1.每日解析日报审核,解析周报整理及月度专项不良解析进度汇总
    2.点线类/cell类/mura类不良失效原因分析验证,并产出解析报告
    3.模组段ET1/ET2电性相关不良解析验证,并产出解析报告
    4.碎亮点,薄暗线等特殊不良专项解析,并产出解析报告
    5.产线爆量,首检,快跑批等高时效性解析
    6.协助良率提升科提升产线的良率、直通率以及处理WIP的速度
    7.实验室游标卡尺/OM/SEM等量测设备MSA事项跟进
    8.参与和发起同部门和部门间的技术讨论和沟通
教育经历
  • 2008.09-2011.06
    开封现代科技中等职业技术学校
    中专学历 机电一体化专业
项目经验
  • 2015.03 - 2015.06
    亮点多发失效解析FA助理工程师
    背景:随着全面屏等新机种的不断投入,亮点不良持续飘高,良率压力大,需要找出异常真因,给良率团队提供改善方向
    结论:通过大量实验分析,锁定失效真因共有3个不同类型,金属膜层残留,膜层异物/Gate漏流/Vth左shift
    类型1.正常黑画面可见(source/Gate均加信号),其他画面不可见,数量1~3颗,亮点位置不固定,laser定位后,拆片去液晶使用OM观察TFT侧,可看到金属膜层残留,膜层异物等;
    失效机理:金属膜层,膜层异物等导致data线源漏short,source不经过沟道直接将信号传输给drain极,形成亮点
    类型2.正常黑画面,上电黑画面均可见(只给gate加信号打开mos管,不给source加信号),其他画面不可见,数量3到10颗,位置固定位于panel长边边缘,VGL由-8.5V调到-5V亮点变淡,laser定位后,拆片去液晶使用OM观察TFT侧,去PI前后均看不到异常,使用TEG测试亮点pixel mos管特性,发现NG区域管子关闭时漏流比ok区域偏大2到3个数量级,后经过FIB发现GI膜层出现空洞导致M1与poly微short,导致漏流,目前锁定空洞由ESD导致
    失效机理:GI空洞导致M1和poly微short,mos管子关闭时,Ioff比正常偏大2~3个数量级,漏流source信号关闭时,仍有gate给像素电容充电,形成亮点
    类型3.正常黑画面可见,其他画面不可见,数量2~3颗,亮点位置不固定,VGL由-8.5V调到0V,亮点变明显
    laser定位后,拆片去掉液晶使用OM观察TFT侧,看不到异常,使用TEG测试亮点pixel mos管特性,发现管子vth阈值电压为-3V,比规格值左shift 4V(规格阈值电压1.5V±1)
    失效机理:mos管vth左shift导致管子提前打开充电,和关闭时管子关不紧漏流形成亮点
自我评价
  • 我具有9年的TFT-LCD工作经验;掌握TFT-LCD制程及工艺原理;拥有丰富的实验室管理经验;对IT网络构架,ERP办公系统有一定的认识,掌握TFT-LCD点线类,Cell类,Mura类等不良分析方法;掌握常用分析仪器的分析方法,如OM,SEM,AFM,EMMI,EDX,TEG 等;能够熟练运用o
简历投诉
若该简历为无效简历,您可以在此举报:
面试职位:
联系人:
联系电话:
面试时间:
面试地址:
面试备注:
 
用户名:
密    码:
验证码:
 
还没有账号?立即注册
客服服务热线
18565133989
工作日 9:00-19:00
关于我们
产品内容
会员服务
网站特色
咨询反馈
官方微信

液晶网人才频道 粤ICP备17092289号-3

地址:广州市桥中中路165号西郊商贸中心北塔1604-1606 电话(Tel):18565133989 EMAIL:2877406649@qq.com

用微信扫一扫